近日，香港科技大学(广州)消息称，中国广州已获国际二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS)组委会同意，得到2026年国际SIMS会议的举办权，大会首次落户中国，将在香港科技大学(广州)举行。2026年国际SIMS会议组织委员会主席将由香港科技大学(广州)材料表征与制备中心主任、先进材料学域兼任教授翁禄涛担任。
SIMS即“二次离子质谱”(secondary ion mass spectroscopy)。据悉，国际SIMS会议每两年举办一次，是SIMS领域最顶级的学术会议。按照惯例，分别由北美、欧洲和亚洲三个地区的国家轮流举办，2026年国际SIMS会议在中国广州举办，这将是该会议首次在中国举办，我国也成为第三个举办该会议的亚洲国家，此前举办过该会议的亚洲为日本、韩国。
据了解，SIMS(二次离子质谱)是一项高度“交叉”的分析技术，是目前最为先进的微区分析手段，也是目前应用最广泛的表面分析技术之一，在材料、生物、地球科学、天体化学、半导体工业等领域扮演十分重要的角色。
二次离子质谱仪也称离子探针，具有高分辨率、高精度、高灵敏等特征，非常灵敏，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分子吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子，通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。
SIMS技术虽然在我国起步比较晚，但近十年来发展十分迅猛，学界、产业界的仪器数量和相关学术研究的水平均不断增长和提升，也得到了国际上的认可。多年来，翁禄涛教授一直致力于发展SIMS技术在中国的应用，作为国际SIMS组委会中唯一的华人代表，还积极推进着中国与国际SIMS领域的深入交流。
