绝缘劣化特性评价系统 SIR13/SIR13 SLIM

产品介绍

绝缘劣化特性评价系统 SIR13/SIR13 SLIM

一机三用：离子迁移和绝缘电阻测定及绝缘特性评价（3Way Use Type）
所有通道ch都配有微小电流计，以20ms的速度，连续测定绝缘电阻值和捕捉瞬间发生、瞬间结束的离子迁移现象
250V标准测试板构成：16ch，1ch/1电源和8ch/1电源。
500V及1000V测试板构成：8ch，1ch/1电源可根据需要选择不同的测试板。
可根据实际需要，自由选择各测试板，且可混杂使用。
可获取离子迁移现象发生时、发生前和发生后的数据。
使用高压单元，**大加载电压可达：10kV
可搭载脉冲测试板，加载重复的脉冲电压，
脉冲电压选择范围：在＋100V和-100V之间自由选定。
±脉冲加载波形可以20μs为单位，设定任意波形，即可作出各种脉冲波形。

SIR13规格
加载电压：100VPulse・250V・500V・1kV
高电压单元：1.5kV・3kV・6kV・10kV
测定板：**多8枚(16ch/板时，Max128ch)
**大电流测定范围测定量程及分辨率: 
1) 30mA(1μA 分辨率)
2) 3.2mA(10nA 分辨率)
3) 320μA(1nA 分辨率)
4) 3.2μA(10pA 分辨率)
5) 32nA(100fA 分辨率)
6) 320pA(1fA 分辨率)