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PlantScreen高通量植物表型成像分析系统捷克PSI

PlantScreen高通量植物表型成像分析系统捷克PSI

PlantScreen高通量植物表型成像分析系统捷克PSI
PlantScreen高通量植物表型成像分析系统捷克PSI,用于植物高通量表型成像分析测量、植物胁迫响应分析测量、植物生长分析测量、植物生态毒理学研究、性状识别及植物生理生态分析研究等。
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库号:M98411 品牌/制造商: 型号:PlantScreen

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产品介绍

产品名称:高通量植物表型成像分析系统(XYZ三维成像版)
品牌:PSI
产地:捷克
型号:PlantScreen

PlantScreen高通量植物表型成像分析系统捷克PSI的介绍:

PlantScreen三维表型成像分析系统是一款高精度、高通量、自动化植物表型研究平台。该系统由多种以植物动态生长和生理指标为基础的图像传感器组成,适用于原位或培养容器中小到中型尺寸的植物研究需要。XYZ自动手臂根据用户自定义的运行和测量程序将传感器直接移动到要测量的植物上方进行成像分析。PlantScreen三维表型成像系统可以安装在小型、大型温室或生长箱内。

PlantScreen三维植物表型成像分析系统整合了叶绿素荧光动力学成像、RGB成像、高光谱成像、近红外成像、热成像等多种传感器,智能化控制,全方位对拟南芥、小麦、玉米等不同尺寸植物的生理生态与形态结构成像分析,用于植物高通量表型成像分析测量、植物胁迫响应分析测量、植物生长分析测量、植物生态毒理学研究、性状识别及植物生理生态分析研究等。

可用传感器:RGB成像系统、叶绿素荧光成像系统、高光谱成像系统、近红外成像系统、热成像系统。

原理:整套系统由三维移动系统、RGB成像、叶绿素荧光成像、高光谱成像、植物热成像、植物近红外成像、标识系统等组成,用户设定X、Y、Z坐标,软件根据设定的程序自动移动传感器到需要测量的样品区域进行测量和保存数据。

特点:

  • 采用“传感器—植物”模式;
  • 多重控制平台间相互协调;
  • 根据用户实验需求量身定制;
  • 测量参数多样,有热成像、RGB成像、叶绿素荧光成像、高光谱成像、近红外成像等全方位测量参数;
  • 适用于多种类型的研究对象,拟南芥、水稻、小麦、玉米等;
  • 成像面积大,单幅成像达35cm x35cm;
  • 三轴机械臂,可在工作区域三维移动;
  • 成像平台大,在100cm-150cm高度处自动调节;
  • 用户可编辑测量程序(protocols),满足特殊实验需求;
  • 特别的条形码设别,自动读取样品信息;
  • 根据特别的ID编号自动数据管理;


PlantScreen高通量植物表型成像分析系统捷克PSI的参数:
系统主体

成像分析平台:4个110x170cm平台,在100-150cm间自动调节
移动方式:XYZ三轴机械臂,根据研究对象定制设计
环境传感器:可选择连接
实验程序:预设常用实验程序(Protocols),用户可自定义、编辑实验程序

叶绿素荧光成像系统
测量和计算的参数:Fo, Fm, Fv, Fo’, Fm’, Fv’, Ft, Fv/Fm, Fv’/Fm’, Phi_PSII, NPQ, qN, qP, Rfd等几十个叶绿素荧光参数
成像面积:35cm x 35cm
测量光:橙色620nm
光化学:橙色和白色双色光
饱和光:白色或蓝色,**光强3600μmol.m-2 .s-1
红外光:735nm

RGB成像
测量参数:叶面积、植物紧实度、叶片周长、偏心率、叶圆度、叶宽指数、叶片细长度SOL、植物圆直径、凸包面积、植物质心、节间距、生长高度、植物三维**高度和宽度、相对生长速率、叶倾角、节叶片数量、其他用于植物适合度估算的颜色定量分级、绿度指数
成像位置:顶部及侧面全方位成像
分辨率:500万像素
图像校准:桶型畸变校准功能,托盘探测及剪切处理功能,背景去除功能

高光谱成像
测量参数:归一化指数、简单比值指数、改进的叶绿素吸收反射指数、**化土壤调整植被指数、绿度指数、改进的叶绿素吸收反射指数、转换类胡萝卜素指数、三角植被指数、ZMI指数、简单比值色素指数、归一化脱镁作用指数、光化学植被反射指数、归一化叶绿素指数、Carter指数、Lichtenthaler指数、SIPI指数、Gitelson-Merzlyak指数
光谱范围:400-2500nm
视野:150cm x 100cm

热成像
分辨率:640x480nm
温度范围:20-120°C
灵敏度:NETD<0.05°C@30°C/50mK
成像面积:150x150cm
热灵敏度:<0.05°C at 30°C
光谱范围:未冷却微测热辐射计,范围在7.5-13微米
光源:可调LED,光强变化范围0-500 umol m-2s-1

近红外成像
波长范围:1450-1600nm

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