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电容寿命试验系统 TLE60

电容寿命试验系统 TLE60

电容寿命试验系统 TLE60
电容寿命试验系统 TLE 60
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库号:M55468 品牌/制造商: 型号:TLE 60

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产品介绍

电容寿命试验系统 TLE 60

TLE60
每通道**大可加载1kV/20mA; 500V/20mA; 250V/50mA,
自动进行长时间电容寿命评价试验。
系统构成:**多装配20块板,每块板拥有10通道。
因为,每通道的电流量,负载容量大。
所以,1通道可连接20个〜50个电容,进行寿命测定和伯恩利试验。
因为设定了限流电阻,所以不会损坏测试品。

TLE规格

加载电压 1~250.00V 10~500.0V 10~1000.0V
测定电压 0~250.00V 0~500.00V 0~1000.0V
测定电流 0~50.000mA
0~5.0000mA
0~500.0 uA
0~50.000mA
0~5.0000mA
0~500.00uA
0~50.000uA
0~20.0000mA
0~2.00000mA
0~200.000uA
0~20.0000uA
泄漏电流 0.500~50.000mA 5.000~50.000mA 4.000~20.000mA
**大负载容量 1200uF/CH 1200uF/CH 1200uF/CH
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